在测量光耦电路响应时间时，设计者们希望测量电路能够越简单越好，这样就能最大程度上减少所耗费的时间，在本篇文章当中，将为大家介绍一种结构非常简便的测量光耦电路响应时间的设计。

图1

电路可以用于测量光敏电阻型光耦的启动与恢复时间（图1）。这些光耦器件一般用于音频压缩器或音量控制电路。本设计使用了一只振荡的施密特触发器，在其反馈回路中有光耦DUT（待测器件）。光敏电阻与电阻R1构成一个分压器，控制施密特触发器的输入。光耦的LED连接到触发器的输出端。用示波器或数字万用表就可以测量输出脉冲的周期。负输出脉冲的周期等于开关导通时间，或启动时间。正脉冲的周期则等于开关断开时间，或恢复时间。启动与恢复时间取决于R1的值；改变R1的值就可以观察到两个时间。使用图1中的元件值时，输出脉冲的周期为启动时间0.15ms，恢复时间为2.7ms。

图1在振荡电路的反馈回路中加入一个光敏电阻，就可以测出光耦的上升时间和下降时间。

在振荡期间，光敏电阻的阻值从RP1变化至RP2。电路根据R1、电源电压，以及施密特触发器阈值电压，扫过这些光敏电阻值，如下式：RP1=R1×VT2/（VCC-VT2），以及RP2=R1×VT1/（VCC-VT1），其中，VT1为施密特触发器的正向阈值电压，VT2为负向阈值电压。

采用74HC14逻辑系列器件时，可以从数据表中找到阈值电压以及电源电压，从而按下式得到典型值：VT1=0.53×VCC，以及VT2=0.31×VCC。用5V电源电压时，解出下列方程可得光敏电阻的区间为：RP1=0.45×VR1，以及RP2=1.13×VR1。

这种方法可以挑选一个R1的值，使光敏电阻的区间适合于你的设备。另外，还可以改变电阻R2的值，这样可以观察到DUT的LED电流-启动时间的关系特性，而不会影响恢复时间。注意，R2限制了通过LED的电流；如果其阻值过大，则振荡将不会发生。

本篇文章介绍了一个关于测量光耦电路响应时间的例子，本例最大程度上简化了设计，在结构简单的前提下，最大程度上为设计者们节省了时间，希望大家在阅读过本篇文章之后，能够有所收获。